當前位置:大昌洋行(上海)有限公司(大昌華嘉科學儀器部)>>材料科學>>Zeta電位及納米粒度分析儀>> NANO-FLEX II納米粒度分析儀-180°(DLS)
德國Colloid Metrix公司是一家專業研發和制造表征交替特征的儀器公司。在膠體配方分析方面, CMX公司的STABINO,ZETA-CHECK和NANO-FLEX為用戶提供了全新的流動/Zeta電位和粒度的測量方法,同時STABINO配合NANO-FLEX還提供多種滴定功能,可以實現不同PH值, 不同濃度的鹽溶液以及聚電解質的溶液體系中顆粒的大小和Zeta電位的變化以及等電點的測量。
納米粒度分析儀-180°(DLS)的測量原理
激光通過光纖和藍寶石窗口聚集在樣品上。窗口會反射部分入散光。激光的反射光和散射光在檢測器上被測量。信號的波動部分是由于顆粒的布朗擴散所致。通過快速的傅里葉變換算法轉換為能譜,并同激光自身的頻率做對比。無需假設任何的分布模型,粒徑分布直接從能譜數據中計算而來。
納米粒度分析儀-180°(DLS)的應用
具備DLS方法的NANO-FLEX II幾乎是無限制的,只要樣品粘度處于牛頓流體的范圍內,這是在液體中做自由布朗運動和準確測定顆粒粒徑的前提。顆粒物所處的液體介質可以是水、也可以是有機溶劑。分散體的臨界凝固點可通過粒徑測試和電位測試來判定。因而NANO-FLEX II的傳感器可浸入STABINO II的測試腔來達到這個目的。
一分為二
具備兩種功能的一臺儀器的最大弊端就是無法提供兩組不同人來使用。NANO-FLEX II和STABINO II既可以合在一起使用,也可以分開單獨使用。
180°DLS的特點
• 光路可以測量(<0.3μm),意味著無多重散射的干擾;即使不透明的樣品仍然可以測定
• 樣品濃度可達40%v/v
• 粒徑測試結果不會因為濃度的改變而改變
• 在同一測試中,具備高動態范圍和高分辨率
• 可以實現原位測試,無需稀釋
產品參數
測量原理 | 180°動態光散射和異相多普勒技術 |
粒徑范圍 | 0.3nm-10μm |
在線功能 | √ |
ul pH范圍 | 1-14 |
樣品濃度 | <40 vol% |
樣品體積 | 最小 40 ul |
分子量 | √ |
測量尺寸 | 180*300*260 |